Yeşil Bina Dergisi 20. Sayı (Temmuz-Ağustos 2013)

YEŞİL BİNA / AĞUSTOS 2013 49 test edilen 4 örnek dışındaki alt sistem testlerinde, toplam 108 döngü içinde 1 köprü arızası meydana gelmiştir. Arızanın test kurulumu ile ilgili değil de IGBT’nin eskimesi ile ilgili olduğu kanıtlanırsa eğer bu, arızayı bulmak için tüm örnekleri daha uzun döngülerle test etmemiz ve RBD’yi, IGBT’lerin yeni güvenilirlik hesaplamala - rını temel alarak güncellememiz gerektiği anlamına gelir. Bu projede bir pilot proje sergilenmiş ve kullanım ömrünün saha verileri ve ALT planları temel alınarak hesaplanmasına yönelik adımlar açıklanmıştır. Her ne kadar daha fazla saha verisi elde etmek ve daha fazla örnek ile daha uzun bir test sürecinden faydalanmak daha hassas hesaplamalar yapmamızı sağladıysa da bu proje, örnek boyutu, test süresi ve saha verileri gibi kısıtlamaları ve saha, tedarikçi ve ALT sonuçları gibi birçok veri kaynağını optimum hale getirme zorun - luluğu olan bir gerçek hayat güvenilirlik tahmini örneği sağlamıştır. REFERANSLAR 1. T. Xijin, “Soğutma Fanı Güvenilirliği: Arıza Kriteri, Hızlandırılmış Kullanım Ömrü Testi, Modelleme ve Kalifikasyon.” Güvenilirlik ve Sürdürebilirlik Sempozyumu, 2006. RAMS ‘06. Yıllık: 380-384. 2. Ulusal İklim Veri Merkezi, ABD Ticaret Bakanlığı, 6. Temmuz 2012’den itibaren, http:// www7,ncdc.noaa.gov/CDO/ cdoselect.cmd?datasetabby=GSOD &countryabby=&georegionabby= 3. Micol, A, C Martin, O Dalverny, M Mermet-Guyennet ve M Karama. “Stokastik Belirsizlik ile Güç Modülünde Kurşunsuz Lehimin Güvenilirliği.” Mikroelektronik ve Güvenilirlik 49, no. 6 (2009). 4. Peck, D.S., “Nem Testi Korelasyonu için Kapsamlı Model,” IEEE IRPS Tutanakları, 1986. pp. 44 – 50. 5. Condra, L. W. (2001). Deney Tasarımları ile Güvenilirliğin Gelişimi. New York, Marcel Dekker. 6. Mettas, A. ve Z. Wenbiao (2005). Modelleme ve genel onarım ile onarılabilen sistemlerin analizi. Güvenilirlik ve Sürdürebilirlik Sempozyumu, 2005. Tutanaklar. Yıllık. 7. Parler, Sam G., Jr., 2004. Elektrolitik Kapasitörler için Kullanım Ömrü Çarpanlarının Türetilmesi. IEEE Güç Elektroniği Birliği Bülteni 16 (1):11-12. 8. Newcombe, D R, D Chamund, C Bailey ve H Lu. “IGBT Güç Modüleri için Güvenilirlik Ölçütleri.” Elektronik Paketleme Teknolojisi ve Yüksek Yoğunluklu Paketleme (ICEPT- HDP), 2010, 11. Uluslararası Konferansı. 9. Trinidade, D. ve S. Nathan, (2006). Onarılabilir sistemlerin saha güvenilirliğinin izlenmesi için basit çizimler. Güvenilirlik ve Sürdürebilirlik Semp., 2006.